按照显微镜测厚方法原理进行方法分配（之一）_北京上光仪器有限公司

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按照显微镜测厚方法原理进行方法分配（之一）

新闻来源：未知发布时间：2019-3-5 9:49:15

按照显微镜测厚方法原理进行方法分配（之一）

对于试样测厚的方法是比较多的，今天给大家介

绍使用比较广泛的两种方法，①化学法，②电化学法，

首先，第一种化学法

它主要根据的试液的一定成份来进行的，如果是

在规定的条件下，其所产生的化学反应就是倒置镀

层出现腐蚀的情况，

然后，通过对液滴进行计量和计时，或者是使用

称重等方法，就可以对镀层的厚度来进行计算，

使用化学法来进行测厚，还可以分为以下三种形

式来进行，①点滴法，②化学溶解，③液流法，

化学法测厚的缺点是，条件不容易控制，这样其

终点不太好判别，那么在检测的时候，其测试精度

就会比较低，所以这种方法，只能使用在一般的

车间来进行控制。

关键词:按照显微镜测厚方法原理进行方法分配（之一），荧光显微镜

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