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7XB 检测金相显微镜

激光平面干涉仪简介

激光平面干涉仪是一种基于激光干涉原理的精密光学测量仪器,主要用于检测和测量光学元件和平面的平面度、平整度、平行度、厚度及微小位移等精密几何参数。它采用单频、稳定输出的激光器作为光源,通过分光系统产生相干光束,并利用干涉条纹的移动或变化来精确计算待测平面的微小变化量。激光平面干涉仪具有测量范围广、精度高、非接触...点击了解更多......

激光干涉仪的测量方法

  激光干涉仪的测量方法主要基于光的干涉原理,通过测量干涉条纹的变化来推断被测量物体的参数。以下是激光干涉仪测量方法的详细步骤和要点:  一、基本原理  激光干涉仪利用两束相干光在空间交叉处发生干涉,形成干涉条纹。通过测量干涉条纹的相位差或位移量,可以计算出被......[查看详情]

激光平面干涉仪校准规范

  激光平面干涉仪校准规范涉及多个方面,包括校准的目的、范围、环境条件、校准项目、校准方法以及校准结果的处理等。以下是对激光平面干涉仪校准规范的一个概述:  一、校准目的  激光平面干涉仪校准的主要目的是确保仪器的测量精度和稳定性,通过校准消除仪器因长期使用、......[查看详情]